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VC-250 传感器光谱响应测量系统

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概要

        该系统测量光电转换元件(如光电二极管和CCD/CMOS图像传感器)的光谱特性(光谱响应和光谱响应度)。    

        该系统可实时监控波长的光强度,控制单元可以生成具有恒定能量(W/cm2)或恒定数量的光子(光子/cm2)的单色光进行样品照射。      

   

特性

    ● 适用于评估光电二极管和CCD/CMOS图像传感器的光谱特性
    ● 单色光的可变光强度高达 3 digits
    ● 利用光强实时反馈机制消除参考值
    ● 光谱特性(光谱响应/光谱响应度)可通过软件设定的能量或光子数轻松测量
    ● I-V测量可在配备可选附件的波长设置下进行测量
    ● 支持外部控制模式。可通过GP-IB接口(CCD和CMOS图像传感器)由主计算机控制命令进行操作
   
   

详细参数                                                                                                         

波长范围 300 ~1300nm (1700nm可选 )
辐照强度 恒定能量 : 1 ~ 50μW/cm2 恒定光子数 : 1×1014photon/cm2・sec
光强度控制 实时光强度反馈系统
辐射面积 10×10mm ( 40×40mm 可选)
面内均匀性 ±2.5% 以内
波长纯度 约10nm
发射光 DC光
幅射光 垂直照射
辐射强度恒定性 ±2.5% 以内
光强度重复性 ±2.0% 以内

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